JEITAよりフレキシブルOLED素子耐久試験の新規格「ET-4501」が公表されました。

JEITAよりフレキシブルOLED素子耐久試験の新規格「ET-4501」が公表されました。

JEITA(電子情報技術産業協会)より、6月に制定されたフレキシブルOLED(有機エレクトロルミネッセンス)素子の耐久試験についての新しい規格が公表されました。

番号 ET-4501
名称 プリンテッドエレクトロニクス -OLED素子- フレキシブルOLED素子に対する機械的ストレス試験

この新しい規格には、フレキシブルディスプレイの耐久試験規格であるIEC 62715-6-1が引用されています。それに伴い、これまで IEC 62715-6-1 への対応を進めてきたYUASA SYSTEMの耐久試験システムによる試験手順も実例のひとつとして参考にされています。
なお、この規格で取り上げられている機械的ストレス試験とYUASA SYSTEMの対応する耐久試験は次の通りです。(試験番号、試験名は規格文書に準じています)

6.2 曲げ試験
[TC111L-FFB] 屈曲試験[面状体曲げ仕様]

6.3 巻き込み試験
[DLDMLH-FR] 面状体ロール巻取試験

6.4 ねじり試験
[TCDMLH-FT] 面状体無負荷捻回試験
[TCD111L-FT] 面状体無負荷捻回試験
[TC111L-FT] 面状体無負荷捻回試験