IEC よりフレキシブルOLED素子の耐久試験規格 IEC 62899-502-1 が発行されました。

IEC よりフレキシブルOLED素子の耐久試験規格 IEC 62899-502-1 が発行されました。

IEC(国際電気標準会議、IEC:International Electrotechnical Commission)より3月10日にフレキシブルOLED素子に対する耐久試験の国際標準規格が発行されました。

規格番号
IEC 62899-5-2-1 Ed. 1.0:2017(en)
標題
Printed electronics – Part 502-1: Quality assessment – Organic light emitting diode (OLED) elements – Mechanical stress testing of OLED elements formed on flexible substrates
https://webstore.iec.ch/publication/33475

2011年11月にIECの委員会 TC119(Printed Electronics)が設立され、国内審議体制を構築するため、JEITA(電子情報技術産業協会)は経済産業省の指導のもとに12月に「TC119国内審議委員会」を発足しました。さらに、国際規格開発のための調査や原案作成を推進をサポートするために「プリンテッドエレクトロニクス標準化専門委員会」を発足しています。この新しい国際標準規格には、「プリンテッドエレクトロニクス標準化専門委員会」が2015年6月に制定した規格 JEITA ET-4501「プリンテッドエレクトロニクスーOLED素子ーフレキシブルOLED素子に対する機械的ストレス試験」の内容が色濃く反映されており、当社の耐久試験システムによる試験手順も実例のひとつとして参考にされています。

なお、この規格で取り上げられている耐久試験と当社の対応する耐久試験は次の通りです。(試験番号、試験名は規格文書に準じています)

6.2 Bending test
[TC111L-FFB] 屈曲試験[面状体曲げ仕様]

6.3 Rolling test
[DLDMLH-FR] 面状体ロール巻取試験

6.4 Torsion test
[TCDMLH-FT] 面状体無負荷捻回試験
[TCD111L-FT] 面状体無負荷捻回試験
[TC111L-FT] 面状体無負荷捻回試験

6.5 Tension Test
[DLD-ST] 面状体引張試験 総合カタログ p.58, 59

「面状体無負荷U字伸縮試験システム」が第42回発明大賞考案功労賞受賞。

日本発明振興協会と日刊工業新聞社共催の「第42回発明大賞」において、当社の「面状体無負荷U字伸縮試験システム」が「考案功労賞」を受賞しました。

第42回 発明大賞 受賞製品・技術のポイント
【考案功労賞】
■摩擦や張力の負荷をかけない曲げ試験機=ユアサシステム機器(取締役執行役員・岡崎恭久氏ほか2人)

スマートフォンなどに使う、丸めたり曲げたりできるディスプレー「フレキシブルディスプレー」の曲げ耐久試験装置。一般的に素材を曲げるために使われる心金「マンドレル」を使わないため、素材が破損しない。マンドレルに接触すると素材に摩擦や張力の負荷がかかって破損し、正確に試験できないのが従来機の課題だった。
(2017年3月9日、日刊工業新聞 https://www.nikkan.co.jp/articles/view/00420111

ご指導、ご協力いただきました多くの皆様に深く感謝申し上げます。

1 / 11