12月14日(水)から16日(木)まで東京ビッグサイトで開催された「SEMICON Japan 2016」へのご来場、誠にありがとうございます。

今回の展示ではフレキシブルデバイス等についての各種耐久試験システムと、それらの試験を温度、湿度の環境変化と連動させることができる環境耐久試験システムをご紹介いたしました。これらのシステムへは相変わらず高いご関心をいただきました。

さらに、最近新たに展示に加えた引張試験や耐久試験サンプルの導体の変化を見るための導体抵抗測定システムへも高いご関心をいただいております。

また、すでに弊社の耐久試験システムを導入されている企業様から、追加の耐久試験機の導入を希望されるなど、多くのありがたいご期待をいただくことができました。

展示した耐久試験システムについてのより詳しい情報や、ご不明な点等ございましたらどのようなことでもお問い合わせいただければと思います。