9月13日（水）から15日（金）まで台北市の台北南港展覧館（Taipei Nangang Exhibition Center）で開催された「SEMICON Taiwan」へのご来場、誠にありがとうございます。

初日は、台風の影響もありご来場者様が少なく感じましたが、2日目、3日目には多くのお客様にご来場いただきました。半導体関連ではこれからの技術であるFHE（フレキシブル・ハイブリット・エレクトロニクス）に関心を持たれておられるお客様が多く、ウェアラブルデバイス等の開発ご担当者様から具体的な耐久試験テーマなどについて多くのご相談をいただきました。まだまだこれから開発が進んでいく分野ですので、お客様の声を少しでも耐久試験システムの開発に繋げられるよう活動して参ります。

展示した耐久試験システムについてのより詳しい情報やご不明な点、お客様の製品開発などに最適な耐久試験のご相談などございましたら、どのようなことでもお問い合わせいただければと思います。