IEC よりフレキシブルOLED素子の耐久試験規格 IEC 62899-502-1 が発行されました。

IEC よりフレキシブルOLED素子の耐久試験規格 IEC 62899-502-1 が発行されました。

IEC(国際電気標準会議、IEC:International Electrotechnical Commission)より3月10日にフレキシブルOLED素子に対する耐久試験の国際標準規格が発行されました。

規格番号
IEC 62899-5-2-1 Ed. 1.0:2017(en)
標題
Printed electronics – Part 502-1: Quality assessment – Organic light emitting diode (OLED) elements – Mechanical stress testing of OLED elements formed on flexible substrates
https://webstore.iec.ch/publication/33475

2011年11月にIECの委員会 TC119(Printed Electronics)が設立され、国内審議体制を構築するため、JEITA(電子情報技術産業協会)は経済産業省の指導のもとに12月に「TC119国内審議委員会」を発足しました。さらに、国際規格開発のための調査や原案作成を推進をサポートするために「プリンテッドエレクトロニクス標準化専門委員会」を発足しています。この新しい国際標準規格には、「プリンテッドエレクトロニクス標準化専門委員会」が2015年6月に制定した規格 JEITA ET-4501「プリンテッドエレクトロニクスーOLED素子ーフレキシブルOLED素子に対する機械的ストレス試験」の内容が色濃く反映されており、当社の耐久試験システムによる試験手順も実例のひとつとして参考にされています。

なお、この規格で取り上げられている耐久試験と当社の対応する耐久試験は次の通りです。(試験番号、試験名は規格文書に準じています)

6.2 Bending test
[TC111L-FFB] 屈曲試験[面状体曲げ仕様]

6.3 Rolling test
[DLDMLH-FR] 面状体ロール巻取試験

6.4 Torsion test
[TCDMLH-FT] 面状体無負荷捻回試験
[TCD111L-FT] 面状体無負荷捻回試験
[TC111L-FT] 面状体無負荷捻回試験

6.5 Tension Test
[DLD-ST] 面状体引張試験 総合カタログ p.58, 59

「面状体無負荷U字伸縮試験システム」が第42回発明大賞考案功労賞受賞。

日本発明振興協会と日刊工業新聞社共催の「第42回発明大賞」において、当社の「面状体無負荷U字伸縮試験システム」が「考案功労賞」を受賞しました。

第42回 発明大賞 受賞製品・技術のポイント
【考案功労賞】
■摩擦や張力の負荷をかけない曲げ試験機=ユアサシステム機器(取締役執行役員・岡崎恭久氏ほか2人)

スマートフォンなどに使う、丸めたり曲げたりできるディスプレー「フレキシブルディスプレー」の曲げ耐久試験装置。一般的に素材を曲げるために使われる心金「マンドレル」を使わないため、素材が破損しない。マンドレルに接触すると素材に摩擦や張力の負荷がかかって破損し、正確に試験できないのが従来機の課題だった。
(2017年3月9日、日刊工業新聞 https://www.nikkan.co.jp/articles/view/00420111

ご指導、ご協力いただきました多くの皆様に深く感謝申し上げます。

展示会出展予定。

今後の展示会の出展予定をお知らせします。

第8回 高機能フィルム展

会場 東京ビッグサイト
会期 2017年4月5日(水)~7日(金)

電子ディスプレイ(液晶、タッチパネル、有機EL)、新エネルギー(太陽電池、二次電池、燃料電池)、スマートフォン、LED、建材、医薬品、食品包装など様々な分野における高機能フィルム関連技術が一堂に出展します。

URL http://www.filmtech.jp/


2017 FLEX Japan

会場 コクヨホール(東京港区港南1-8-35)
会期 2017年4月11日(火)~12日(水)

FHE(Flexible Hybrid Electronics)技術とその応用を集中議論するグローバルコンファレンスです。FHEのグローバルな動向が日本にいながら集中してつかめます。

URL http://www.semi.org/jp/flex-japan-2017


SID DISPLAY WEEK 2017

会場 Los Angeles Convention Center, California
会期 2017年5月23日(火)~25日(木)

ディスプレイ業界の世界最大級の展示会です。最新の技術情報や開発動向が把握でき、ディスプレイ技術者、企業・団体が一堂に会します。

URL http://displayweek.org/


2017 FLEX

会場 Monterey Conference Center, California
会期 2017年6月20日(火)~21日(水)

FHE(Flexible Hybrid Electronics)技術とその応用を集中議論するグローバルコンファレンスです。

URL http://www.semi.org/en/2017-flex


TEST2017 第14回総合試験機器展

会場 東京ビッグサイト
会期 2017年9月13日(水)~15日(金)

材料試験、環境試験と計測、評価に関する国内唯一の総合展。2年に1度のビッグイベントです。

URL http://www.cnt-inc.co.jp/test/

具体的な出展内容等の詳細は後日、当ウェブサイトに掲載いたします。
ご質問等ございましたら、お問い合わせ下さい。

第46回 ネプコン ジャパン ご来場のお礼。

20170126

1月18日(水)から20日(金)まで東京ビッグサイトで開催された「第46回 ネプコン ジャパン」へのご来場、誠にありがとうございます。

初日、二日目と天候に恵まれましたが、最終日はあいにくの天気でした。それでも足元の悪い中にもかかわらず、最終日も多くのお客様と耐久試験の重要性や今後の動向などについて、楽しくお話しできましたことに感謝しております。

次世代フレキシブルデバイスの耐久試験は製品使用用途と同じ動きを求められていますが、ウエアラブル製品のように複雑な動きでも対応できる耐久試験システムをご提案させていただきました。

展示した耐久試験システムについてのより詳しい情報や、ご不明な点等ございましたらどのようなことでもお問い合わせいただければと思います。

第46回 ネプコン ジャパン出展案内。

1月18日(水)から20日(金)まで東京ビッグサイトで開催される「第46回 ネプコン ジャパン」への出展をご案内します。フレキシブルデバイス等についての各種耐久試験システムとそれらの試験と温度・湿度の環境変化との連動が可能な「環境耐久試験システム」をご紹介します。

耐久試験規格 IEC 62715-6-1 や JEITA ET-4501 で定められた様々な耐久試験を網羅したうえに、実際の製品開発現場において高いニーズがあるサンプルへの張力や摩擦をなくした曲げ試験を実現する「無負荷U字伸縮試験」「無張力屈曲試験」も展示しています。これらの試験システムは、純粋に評価したい動作の耐久性のみの評価を可能にしています。

「環境耐久試験システム」は、事前にプログラムで設定した温度・湿度の変化に連動させて、サンプルの動作、速度等を変化させることができる環境・動作連動型のこれまでにない新しい耐久試験システムです。

「無負荷U字伸縮試験」「無張力屈曲試験」「環境耐久試験システム」についての詳細は、「フレキシブルデバイス環境耐久試験システム」パンフレットをご覧ください。

また、小型卓上型耐久試験機につきましては、各種サンプルについての測定装置等がPCを介してつながり、 PCのプログラムに従って測定等のプロセスと耐久試験プロセスの同期が取れるようになりました。今回の展示では、 小型面状体無負荷U字伸縮試験システムと導体抵抗測定装置をPCによりプログラム制御し、試験サンプル動作と抵抗測定タイミングを合わせたシステムの事例をご紹介いたします。

第46回 ネプコン ジャパン

会場 東京ビッグサイト(電子部品・材料 EXPO,小間番号:W12-6)
会期 2017年1月18日(水)~20日(金)
URL http://www.nepconjapan.jp/

展示予定の耐久試験システムについてのより詳しい情報や、ご不明な点等ございましたらどのようなことでもお問い合わせいただければと思います。

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