SEMICON Japan 2016 ご来場お礼。

SEMICON Japan 2016 ご来場お礼。

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12月14日(水)から16日(木)まで東京ビッグサイトで開催された「SEMICON Japan 2016」へのご来場、誠にありがとうございます。

今回の展示ではフレキシブルデバイス等についての各種耐久試験システムと、それらの試験を温度、湿度の環境変化と連動させることができる環境耐久試験システムをご紹介いたしました。これらのシステムへは相変わらず高いご関心をいただきました。

さらに、最近新たに展示に加えた引張試験や耐久試験サンプルの導体の変化を見るための導体抵抗測定システムへも高いご関心をいただいております。

また、すでに弊社の耐久試験システムを導入されている企業様から、追加の耐久試験機の導入を希望されるなど、多くのありがたいご期待をいただくことができました。

展示した耐久試験システムについてのより詳しい情報や、ご不明な点等ございましたらどのようなことでもお問い合わせいただければと思います。

SEMICON Japan 2016 出展案内。

12月14日(水)から16日(木)まで東京ビッグサイトで開催される「SEMICON Japan 2016」への出展をご案内します。

今回の展示ではフレキシブルデバイス等について、各種耐久試験システムとそれらの試験を温度、湿度の環境変化と連動させることができる環境耐久試験システムをご紹介します。

耐久試験システムは、耐久試験規格 IEC 62715-6-1 や JEITA ET-4501 で定められた様々な耐久試験を網羅しています。また、サンプルにかける張力や摩擦をなくした曲げ試験を実現する「無負荷U字伸縮試験」「無張力屈曲試験」は、純粋に評価したい動作についての耐久性のみを評価できるという他にはない特長があります。

環境耐久試験システムは、事前にプログラムで設定した温度、湿度の変化に連動させて、サンプルの動作、速度等を変化させることができる環境・動作連動型のこれまでにない新しい耐久試験システムです。

詳細は、「フレキシブルデバイス環境耐久試験システム」パンフレットをご覧ください。

SEMICON Japan 2016

会場 東京ビッグサイト(東展示棟 Hall3,小間番号:3741)
会期 2016年12月14日(水)~16日(金)
URL http://www.semiconjapan.org/

展示予定の耐久試験システムについてのより詳しい情報や、ご不明な点等ございましたらどのようなことでもお問い合わせいただければと思います。

DLDMLH-FS 面状体無負荷U字伸縮試験機「First Step Guide」のご案内。

フレキシブルデバイス等の面状体サンプルについて、張力や摩擦の負荷がかからない耐久試験として多くのお客様にご利用いただいております「DLDMLH-FS 面状体無負荷U字伸縮試験機」について、ご利用への導入をスムーズに行なっていただくために「First Step Guide」を準備いたしました。

fsg_dldmlh-fs

ご利用の初めにご覧いただくためのものですが、この試験機をより具体的にご理解いただくためにもお役立ていただけます。内容はイラストだけで構成されていますので、ご理解しやすいことと思います。どうぞご活用ください。

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