TEST2017 第14回総合試験機器展ご来場のお礼。

TEST2017 第14回総合試験機器展ご来場のお礼。

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9月13日(水)から15日(金)まで東京ビッグサイトで開催された「TEST2017 第14回総合試験機器展」へのご来場、誠にありがとうございます。

展示会の三日間は天候にも恵まれ、非常に多くのお客様にご来場いただきました。試験機や測定に関する展示会のため、具体的な耐久試験機のお問い合せや、特殊な試験のご相談をいただくなどの様々なお話をさせていただき、耐久試験への関心の高さをいつもより強く実感いたしました。

特に、恒温恒湿環境下での耐久評価を行いながら、試験サンプルの導体抵抗変化や形状変化の観察が可能な試験システムに高い評価をいただきました。

展示した耐久試験システムについてのより詳しい情報やご不明な点、お客様の製品開発などに最適な耐久試験のご相談などございましたら、どのようなことでもお問い合わせいただければと思います。

SEMICON Taiwan ご来場のお礼。

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9月13日(水)から15日(金)まで台北市の台北南港展覧館(Taipei Nangang Exhibition Center)で開催された「SEMICON Taiwan」へのご来場、誠にありがとうございます。

初日は、台風の影響もありご来場者様が少なく感じましたが、2日目、3日目には多くのお客様にご来場いただきました。半導体関連ではこれからの技術であるFHE(フレキシブル・ハイブリット・エレクトロニクス)に関心を持たれておられるお客様が多く、ウェアラブルデバイス等の開発ご担当者様から具体的な耐久試験テーマなどについて多くのご相談をいただきました。まだまだこれから開発が進んでいく分野ですので、お客様の声を少しでも耐久試験システムの開発に繋げられるよう活動して参ります。

展示した耐久試験システムについてのより詳しい情報やご不明な点、お客様の製品開発などに最適な耐久試験のご相談などございましたら、どのようなことでもお問い合わせいただければと思います。

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