第8回高機能フィルム展出展案内。

2017.04.01

第8回高機能フィルム展出展案内。

4月5日(水)から7日(金)まで東京ビッグサイトで開催される「第8回高機能フィルム展」への出展をご案内します。

今回の展示ではフレキシブルデバイス等について、サンプルにかける張力や摩擦をなくした曲げ試験を実現する「無負荷U字伸縮試験」を中心に、事前にプログラムで設定した温度、湿度の変化に連動させて、サンプルの動作、速度等を変化させることができる環境・動作連動型の「環境耐久試験」、測定や評価装置の適用事例、その他各種耐久試験システムを展示しています。

測定や評価装置の適用事例の概要は以下の通りです。

導体抵抗測定プログラム運転

各種サンプルの測定装置と耐久試験機の同期が取れます。

面状体無負荷U字試験治具を動作させる駆動源である「卓上型耐久試験機（DLDM111LH）」は、PCやタブレットを使って操作、状態の監視などの制御が可能です。例えばこの事例では、動作回数、動作速度の変化を事前に設定し、必要なタイミングで導体抵抗の測定をするなどの一連の耐久試験・評価プロセスをプログラミングしています。

試験途中での評価

耐久試験途中でのサンプルが評価しやすいように、様々な試験治具を提供します。

耐久試験の途中でサンプルの変化を確認するために顕微鏡での評価をする事例を展示しています。サンプルを耐久試験機から取り外すことなく、カートリッジを使用してサンプルの周囲の治具の一部とカートリッジを一体化して取り外します。顕微鏡に取り付けた別の治具にこのカートリッジを取り付けるだけで顕微鏡での評価ができます。

その他、耐久試験規格 IEC 62715-6-1 、IEC 62899-502-1 、JEITA ET-4501 などで定められた「曲げ試験（Bending test）」「巻き込み試験（Rolling test）」「ねじり試験（Torsion test）」「引張り試験（Tension test）」のいずれにも対応した様々な耐久試験システムを展示しています。