ユアサシステム機器株式会社

MEASURING SYSTEM

耐久試験×計測

形状解析

形状解析

画像×耐久試験機×計測=サンプルの形状変化を解析

  • サンプル形状の画像解析。
  • 破壊タイミングの予測が可能。
  • サンプルの歪みの算出。
Example
ECP

ECPExternal Control Package

耐久試験と計測をプログラム制御。

  • 速度や回数等の動作変化と測定タイミングをプログラミング。
  • プログラムは自由にカスタマイズが可能。
  • 最大10チャンネルまで測定可能。
ECP+

ECP+External Control Package plus

サンプルの変化をトレンドグラフで常時計測。

  • サンプルの変化を常時計測。
  • 計測中にトレンドグラフを表示。
  • 試験停止条件を事前設定可能。
導体抵抗測定+

導体抵抗測定

サンプルの変化を可視化。

  • 測定データを自動的に保存・CSV出力。
  • 複数の試験機での同時稼働に対応。
  • 2段階の閾値でサンプルを監視して自動停止。
Example