Tension-Free U-shape Folding Test Jig got the prize of the 2017 FLEXI Award at 2017FLEX.

Tension-Free U-shape Folding Test Jig got the prize of the 2017 FLEXI Award at 2017FLEX.

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MONTEREY, Calif. ‒ June 20, 2017 ‒ FlexTech, a SEMI Strategic Association Partner, announced the 2017 FLEXI Award winners at 2017FLEX, the 16th Annual Flexible and Printed Electronics Conference. The FLEXIs, now in their 6th year, recognize outstanding work and achievements of organizations and individuals active in flexible hybrid electronics (FHE).

Nominations in the Product Innovation category are evaluated on the product design and ingenuity, market adoption and revenue generation of products announced within the last twelve months.

YUASA SYSTEM CO., LTD. is an award winner for their FX-FSC90 Tension-Free U-shape Folding Test Jig, a tension- and friction-free FHE testing jig that returns consistent and accurate data from bending tests. “It is an honor to have our innovation and technical expertise recognized by the FlexTech group and to receive a FLEXI award,” said Yasuhisa Okazaki, EVP of YUASA SYSTEM Co. “The award validates our commitment to the U.S. market and to the flexible display industry.”

Award Winners Announced at 2017FLEX

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YUASA SYSTEM co. partners with NexFlex to provide flexible hybrid electronics testing equipment

こちらのリンクよりプレスリリース(PDF)を御覧ください。

第8回高機能フィルム展ご来場のお礼。

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4月5日(水)から7日(金)まで東京ビッグサイトで開催された「第8回高機能フィルム展」へのご来場、誠にありがとうございます。

今回の展示では、耐久試験を環境試験との連動や測定・評価への適用事例にまで広げてご紹介させていただきました。多種類の試験機とそれらの応用の多様さをご覧いただいたお客様からは、自社製品に必要な耐久試験のご相談を少なからずいただきました。その際には弊社で考えられる最適な試験システムのご提案をさせていただいております。

展示した耐久試験システムについてのより詳しい情報やご不明な点、お客様の製品に最適な耐久試験のご相談などございましたら、どのようなことでもお問い合わせいただければと思います。

第8回高機能フィルム展出展案内。

4月5日(水)から7日(金)まで東京ビッグサイトで開催される「第8回高機能フィルム展」への出展をご案内します。

今回の展示ではフレキシブルデバイス等について、サンプルにかける張力や摩擦をなくした曲げ試験を実現する「無負荷U字伸縮試験」を中心に、事前にプログラムで設定した温度、湿度の変化に連動させて、サンプルの動作、速度等を変化させることができる環境・動作連動型の「環境耐久試験」、測定や評価装置の適用事例、その他各種耐久試験システムを展示しています。

測定や評価装置の適用事例の概要は以下の通りです。

導体抵抗測定プログラム運転

各種サンプルの測定装置と耐久試験機の同期が取れます。

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面状体無負荷U字試験治具を動作させる駆動源である「卓上型耐久試験機(DLDM111LH)」は、PCやタブレットを使って操作、状態の監視などの制御が可能です。例えばこの事例では、動作回数、動作速度の変化を事前に設定し、必要なタイミングで導体抵抗の測定をするなどの一連の耐久試験・評価プロセスをプログラミングしています。

試験途中での評価

耐久試験途中でのサンプルが評価しやすいように、様々な試験治具を提供します。

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耐久試験の途中でサンプルの変化を確認するために顕微鏡での評価をする事例を展示しています。サンプルを耐久試験機から取り外すことなく、カートリッジを使用してサンプルの周囲の治具の一部とカートリッジを一体化して取り外します。顕微鏡に取り付けた別の治具にこのカートリッジを取り付けるだけで顕微鏡での評価ができます。

その他、耐久試験規格 IEC 62715-6-1IEC 62899-502-1JEITA ET-4501 などで定められた「曲げ試験(Bending test)」「巻き込み試験(Rolling test)」「ねじり試験(Torsion test)」「引張り試験(Tension test)」のいずれにも対応した様々な耐久試験システムを展示しています。

第8回高機能フィルム展

会場 東京ビッグサイト(小間番号:59-25)
会期 2017年4月5日(水)~7日(金)

URL http://www.filmtech.jp/

展示予定の耐久試験システムについてのより詳しい情報や、ご不明な点等ございましたらどのようなことでもお問い合わせいただければと思います。

IEC よりフレキシブルOLED素子の耐久試験規格 IEC 62899-502-1 が発行されました。

IEC(国際電気標準会議、IEC:International Electrotechnical Commission)より3月10日にフレキシブルOLED素子に対する耐久試験の国際標準規格が発行されました。

規格番号
IEC 62899-5-2-1 Ed. 1.0:2017(en)
標題
Printed electronics – Part 502-1: Quality assessment – Organic light emitting diode (OLED) elements – Mechanical stress testing of OLED elements formed on flexible substrates
https://webstore.iec.ch/publication/33475

2011年11月にIECの委員会 TC119(Printed Electronics)が設立され、国内審議体制を構築するため、JEITA(電子情報技術産業協会)は経済産業省の指導のもとに12月に「TC119国内審議委員会」を発足しました。さらに、国際規格開発のための調査や原案作成を推進をサポートするために「プリンテッドエレクトロニクス標準化専門委員会」を発足しています。この新しい国際標準規格には、「プリンテッドエレクトロニクス標準化専門委員会」が2015年6月に制定した規格 JEITA ET-4501「プリンテッドエレクトロニクスーOLED素子ーフレキシブルOLED素子に対する機械的ストレス試験」の内容が色濃く反映されており、当社の耐久試験システムによる試験手順も実例のひとつとして参考にされています。

なお、この規格で取り上げられている耐久試験と当社の対応する耐久試験は次の通りです。(試験番号、試験名は規格文書に準じています)

6.2 Bending test
[TC111L-FFB] 屈曲試験[面状体曲げ仕様]

6.3 Rolling test
[DLDMLH-FR] 面状体ロール巻取試験

6.4 Torsion test
[TCDMLH-FT] 面状体無負荷捻回試験
[TCD111L-FT] 面状体無負荷捻回試験
[TC111L-FT] 面状体無負荷捻回試験

6.5 Tension Test
[DLD-ST] 面状体引張試験 総合カタログ p.58, 59

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